产品介绍

• 高精度

测角仪：新型分布控制系统实现高精度定位

光 路：组件优化和动态补偿达成高精准性

• 高效率

测角仪：动态响应系统实现快速高精度扫描

探测器：50 微米光子多通道技术大幅提高采集效率

• 高可靠性

光 路：魔卡设计，切换光路和样品台无需再次校正

系 统：模块化设计，在优化运行的同时，降低相互干扰

Thermo Scientific™ ARL™ EQUINOX Pro立式X射线衍射仪，高精度、高效率、高可靠性

Thermo Scientific ARL EQUINOX Pro是一款采用θ/θBragg-Brentano光学的立式XRD。这款仪器基于“整体优”设计原则，凭借先进的软、硬件配置，实现仪器系统运行的整体优化，提升仪器分析的准确性、精确性、易用性和安全性。这款仪器能够出色地完成各类粉末晶体的衍射分析，广泛地应用于材料研发和产品质量控制的相关领域。

新型电控测角系统：新的小型化和分散化电机控制系统，可克服由于驱动电机失步或超步引起的位置误差，提高测角仪的整体控制精度和重复性

先进光子探测技术：前沿PTPC(脉冲触发实时位置)计数技术，通过同步脉冲触发探测器的电子门控电路，将测角仪实际到达位置与探测器响应进行同步，实现探测器计数与测角仪位置的精确对应。

魔卡免维护设计：光路魔卡设计系统和机械误差动态补偿技术，通过整个光路系统上的组件、光源高低、倾角、狭缝架高低、探测器的魔卡设计，支持用户在切换光路和样品台后无需再次校正，直接使用仪器

强大的软件分析功能

可快速对各种粉末衍射数据进行物相识别

能够使用从COD计算出的免费参考图谱、或任何ICDD PDF数据库、和/或您自己的衍射图谱或晶体结构数据进行物相识别

可以使用创新的轮廓拟合搜索匹配算法或经典的基于峰值的搜索匹配算法进行定性分析

可使用参考强度比法(RIR)、Rietveld细化法、DD法、结晶度(DOC)和/或内标法进行定量分析

指标化(可调用Treor或Dicvol程序)

晶体结构解析(可调用Endeavour程序)

可进行Rietveld细化和谱图分解(Le Bail方法)计算

可进行限制检索，即时使用附加信息(已知物相、元素、密度、颜色等)

自动的原始数据处理

使用鼠标进行背景定义/修改

使用鼠标可以方便地编辑峰值（添加/移位、删除/适合）

使用鼠标或对话框改进了缩放和跟踪功能

可对多组衍射数据进行三维显示，例如当需要比较数据时

基于Scherrer法的晶体尺寸估算

该软件可在Windows、macOS和Linux上运行，并兼容市面上厂商衍射数据格式

规格参数